泽攸科技 | 台阶仪的测量精度能达到多少?影响测量精度的因素有哪些?


发布时间:

2025-08-12

在半导体、材料科学、新能源等前沿领域,微观形貌的高精度测量是技术研发与质量控制的核心环节。作为国产高端台阶仪的标杆品牌,泽攸科技凭借自主研发的核心技术,为用户提供了从纳米级到百微米级的高精度测量解决方案。

在半导体、材料科学、新能源等前沿领域,微观形貌的高精度测量是技术研发与质量控制的核心环节。作为国产高端台阶仪的标杆品牌,泽攸科技凭借自主研发的核心技术,为用户提供了从纳米级到百微米级的高精度测量解决方案。本文将围绕泽攸科技台阶仪的测量精度影响精度的关键因素展开解析,为行业用户提供技术参考。

一、泽攸科技台阶仪的测量精度:纳米级稳定性的工业级保障

泽攸科技台阶仪的测量精度是其核心竞争力之一,其技术指标在国产设备中处于领先地位,具体表现为以下三方面:

1、重复性测量偏差≤0.5nm
以JS10C、JS100C/200C/300C、JS2000C/3000C等系列为例,通过搭载自研的双LVDT传感器技术(LVDT传感器1用于检测弹簧形变量计算压力,LVDT传感器2反馈位移控制力),配合一体花岗岩结构与恒力控制技术,其重复性测量偏差可稳定控制在≤0.5nm(基于10μm标准块重复扫描30次的测试结果)。这一数据对标国际一线品牌,尤其在软质材料测量中,通过最小0.5mg的测定力控制,有效避免了样品损伤对精度的影响。

2、垂直分辨率高达0.05nm满量程
泽攸科技台阶仪采用高精度LVDT传感器,其垂直分辨率可达0.05nm满量程,能够捕捉微观形貌的细微变化。例如,在测量晶圆表面氧化层粗糙度、MEMS器件曲率半径等场景中,这一分辨率可精准识别纳米级起伏,为工艺优化提供可靠数据支撑。

3、最大测量范围覆盖160μm
针对不同材料厚度需求,泽攸科技台阶仪的最大测量范围可达160μm(如JS系列),同时支持后期升级至1mm量程(仅需更换探针组件),兼顾微纳级精密测量与大尺寸样品的兼容性。例如,在锡基钙钛矿薄膜、太阳能光伏薄膜等新兴材料研究中,这一特性可满足从几十纳米到百微米级的多场景测量需求。

二、影响台阶仪测量精度的关键因素:从硬件到环境的系统把控

台阶仪的测量精度受多维度因素影响,泽攸科技通过技术创新与系统设计,针对性优化了以下核心环节:

1、传感器与力控系统的稳定性
传感器是台阶仪的“神经中枢”。泽攸科技采用双LVDT传感器方案:LVDT传感器1负责检测弹簧形变量以计算探针施加的压力,LVDT传感器2反馈压电陶瓷位移以确定台阶高度。双传感器的协同工作不仅提升了力控精度(恒力范围0.5~50mg),更通过线性度偏差千分之一以内的特性,确保了全量程内的测量一致性。

2、扫描系统的机械精度
样品台的移动精度直接影响扫描路径的准确性。泽攸科技台阶仪配备高精度气浮台(如JS2000C/3000C采用落地一体式气浮台),配合主动聚焦技术与双导航光学影像系统(正视/侧视高像素彩色相机),可实现样品位置的亚微米级定位,避免因机械晃动或视觉误差导致的测量偏差。

3、探针与环境适应性
探针的曲率半径(标准探针≥2μm,亚微米探针≤1μm)与样品材质的匹配性直接影响接触式测量的精度。例如,测量易损样品(如有机薄膜)时,选择亚微米级探针可减少压痕;而测量硬质材料(如硅片)时,标准探针则能提供更稳定的接触力。此外,环境振动、温度波动等因素也被纳入设计考量——通过一体花岗岩结构(热膨胀系数低)与气浮隔振设计,泽攸科技台阶仪可在常规实验室环境下保持稳定性能。

4、数据处理算法的可靠性
测量数据的后期处理是精度的“最后一公里”。泽攸科技台阶仪配套软件支持自动台阶高度计算、SPC统计分析(批量数据趋势监控)及3D形貌可视化(伪彩色高度图),并通过数据导出兼容ASC、CSV格式,无缝衔接MATLAB、Origin等分析工具,确保从原始数据到结论的全流程可追溯。

三、泽攸科技台阶仪的应用价值:从实验室到产线的精密测量专家

凭借纳米级测量精度与系统性的抗干扰设计,泽攸科技台阶仪已在半导体、新能源、材料科学等领域广泛应用:

半导体制造:用于晶圆表面粗糙度分析、薄膜厚度测量(如氧化硅、金属层),确保芯片电学性能达标;

新能源材料:在钙钛矿薄膜研究中(如锡基钙钛矿、准二维钙钛矿),通过精确测量薄膜厚度(35-40nm)与表面形貌,助力器件迁移率(>60 cm² V⁻¹ s⁻¹)与稳定性(30天保持84%迁移率)提升;

MEMS与生物医疗:测量微米/纳米级结构表面波纹、人工关节微观形貌,支撑器件可靠性与生物相容性验证。

泽攸科技台阶仪以“国产替代,自主首创”为理念,通过双LVDT传感器、主动聚焦、气浮台等技术,将测量精度推向纳米级,同时在环境适应性、数据处理效率等方面形成差异化优势。对于追求高精度、高稳定性的行业用户而言,泽攸科技台阶仪不仅是测量工具,更是技术研发与质量控制的核心伙伴。