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透射电镜原位电学测量样品杆厂家——原位TEM样品杆价格

透射电镜原位电学测量样品杆厂家——原位TEM样品杆价格


PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组(20世纪90年代),围绕原位电学测量样品杆,泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展,已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆,产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。

透射电子显微镜(TEM)与扫描电子显微镜(SEM):揭示微观奥秘

透射电子显微镜(TEM)与扫描电子显微镜(SEM):揭示微观奥秘


在当代材料科学与纳米技术领域,透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)已经成为实验室中不可或缺的重要仪器。这两种高分辨率显微镜不仅使我们能够窥探微观世界中的晶体结构和表面形貌,而且为科学家们提供了深入了解材料内部结构和成分的独特视角。在本文中,我们将深入探讨TEM和SEM的原理、性能、应用及其在材料科学研究中的重要作用。