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泽攸科技JS系列高精度台阶仪在半导体领域的应用

泽攸科技JS系列高精度台阶仪在半导体领域的应用


泽攸科技JS系列高精度台阶仪是一款先进的自主研发的国产台阶仪,采用了先进的扫描探针技术。通过扫描探针在样品表面上进行微观测量,台阶仪能够准确获取表面形貌信息。

透射电镜原位电学测量样品杆厂家——原位TEM样品杆价格

透射电镜原位电学测量样品杆厂家——原位TEM样品杆价格


PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组(20世纪90年代),围绕原位电学测量样品杆,泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展,已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆,产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。

台阶仪在半导体芯片中的应用

台阶仪在半导体芯片中的应用


泽攸科技JS系列台阶仪(探针式轮廓仪)在半导体芯片制造中发挥着关键的作用,主要应用于薄膜材料测量和表面形貌测量,对于确保半导体芯片的质量和性能具有重要意义。