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扫描电子显微镜电子束辐射损伤和如何减轻

扫描电子显微镜电子束辐射损伤和如何减轻


扫描电镜(Scanning Electron Microscope, SEM)是一种常用的材料表征技术,它通过聚焦电子束扫描样品表面,利用电子与样品相互作用产生的信号来获得高分辨率的形貌图像。然而,电子束的辐射可能会对样品造成损伤,特别是在高束流密度下。这种辐射损伤可能改变样品的表面形态和化学组成,影响实验结果的准确性。

扫描电镜放大倍数对图像质量的影响

扫描电镜放大倍数对图像质量的影响


扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)作为一种强大的显微镜,其放大倍数在观察样品微观结构时发挥着关键作用。不同的放大倍数影响着图像质量的多个方面,以下是一些相关的考虑因素

泽攸科技┃扫描电镜技术原理及应用

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扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)作为一种新型的多功能电子光学仪器,近几十年来在科学研究和工业应用中发挥了巨大的作用

扫描电镜(SEM)样品在进行扫描电镜观察前需要进行哪些处理

扫描电镜(SEM)样品在进行扫描电镜观察前需要进行哪些处理


对于扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)样品的制备,需要经过一系列处理步骤以确保样品表面的干净、导电性好,并且能够提供高质量的显微图像。以下是一些常见的处理步骤:

扫描电镜中的EDS(能谱分析)原理是什么?

扫描电镜中的EDS(能谱分析)原理是什么?


扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种利用电子束来观察样品表面微观结构的仪器。能谱分析(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy,EDS)是一种在扫描电子显微镜中常用的技术,用于分析样品中的元素成分。