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扫描电镜

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ZEM20台式扫描电镜


ZEM20台式扫描电微镜操作简便,仅需鼠标即可完成所有操作,一体式聚光镜,无需手动调节光阑

PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统


PicoFemto NI-100 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中,使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。

ZEM18台式扫描电镜


ZEM18台式扫描电镜信号采集带宽高达10M,扫描速度快,视频模式下实时观察样品,无重影、拖影,不错过每一个细节

ZEM15台式扫描电子显微镜


秉承操作便捷、快速成像、性能稳定的设计目标,泽攸科技自主研发了钨灯丝ZEM15台式扫描电子显微镜。 ZEM15台式扫描电镜速度快,信号采集带宽10M,可以在视频模式下流畅实时的显示样品。只需鼠标就可完成所有操作,不需对中光阑等复杂步骤,聚焦消像散后可直接拍图。 主机集成高压及控制系统,体积小巧,便于移动,可出差携带,安装无需特殊环境,只需找一张桌子,供电就可工作。

泽攸科普——扫描电子显微镜(SEM)像衬度形成原理

泽攸科普——扫描电子显微镜(SEM)像衬度形成原理


扫描电镜通过电子束在样品表面进行周而复始的扫描运动,同时实时监测各种信号图像的产生,然后根据产生的信号多少来调制图像。

泽攸科普——扫描电子显微镜电子光学系统详解

泽攸科普——扫描电子显微镜电子光学系统详解


扫描电镜的电子光学系统是实现高分辨率成像的关键所在,其良好的设计与优化关系到设备性能和图像质量。本文主要从电子枪、电磁透镜、光阑、扫描系统和物镜五个子系统详细阐释扫描电镜电子光学系统的组成、功能实现原理及核心技术,分析存在的主要困难与发展方向,以便读者全面系统地了解扫描电镜电子光学系统的工作方式

扫描电子显微镜(SEM)样品制备要求与方法解析

扫描电子显微镜(SEM)样品制备要求与方法解析


扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种强大的分析工具,广泛应用于材料科学、生物学、医学、半导体材料和化学化工等领域。SEM能够提供高分辨率的表面形貌图像,因此样品制备成为获取准确、清晰图像的关键步骤。本文详细解析了SEM样品制备的要求和方法。

扫描电子显微镜的电子束对样品有没有损伤?

扫描电子显微镜的电子束对样品有没有损伤?


扫描电子显微镜(SEM)是一种用于观察和分析固体样品表面形貌和结构的高分辨率显微镜。在 SEM 中,电子束会被聚焦并扫描样品表面,产生与样品表面形貌相对应的信号,这些信号可以被探测器收集并转化为图像。那么,SEM 中的电子束对样品有没有损伤呢

扫描电子显微镜(SEM)的操作技巧与能谱(EDS)分析的要点

扫描电子显微镜(SEM)的操作技巧与能谱(EDS)分析的要点


在日常的材料分析研究中,扫描电子显微镜作为常用设备之一,展现了其独特的优势。与传统的光学显微镜相比,电子显微镜以其高分辨率、广阔的放大范围和良好的图像景深感而著称。此外,其简便的样品制备过程也使得它在生物学、材料科学和环境科学等多个领域中得到了广泛的应用。

扫描电子显微镜电子束辐射损伤和如何减轻

扫描电子显微镜电子束辐射损伤和如何减轻


扫描电镜(Scanning Electron Microscope, SEM)是一种常用的材料表征技术,它通过聚焦电子束扫描样品表面,利用电子与样品相互作用产生的信号来获得高分辨率的形貌图像。然而,电子束的辐射可能会对样品造成损伤,特别是在高束流密度下。这种辐射损伤可能改变样品的表面形态和化学组成,影响实验结果的准确性。