扫描电子显微镜和透射电子显微镜的区别


发布时间:

2023-11-14

扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)都是利用电子束来观察样品的微观结构,但它们的工作原理和应用领域有所不同

扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)都是利用电子束来观察样品的微观结构,但它们的工作原理和应用领域有所不同。

扫描电子显微镜(SEM):

SEM是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。

SEM具有景深大、分辨率高, 成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品可在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。

SEM已广泛应用于材料、冶金、矿物、生物学领域1,并且可以对物质的形态、组成、结构等方面进行分析研究。

透射电子显微镜(TEM):

TEM是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

由于电子的德布罗意波长非常短,TEM的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2 nm,放大倍数为几万~百万倍。

TEM可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数千倍。

TEM在物理学和生物学等相关的许多科学领域中都是重要的分析方法,如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。

总的来说,SEM和TEM都是强大的工具,可以提供关于样品微观结构的深入洞察。然而,它们的选择取决于特定的实验需求,例如需要观察样品的哪一部分(表面还是内部),以及需要多大的分辨率等。

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