泽攸科技JS系列台阶仪，纳米精度，触手可及
发布时间：
2024-09-04
太阳能电池和太阳能充电系统的性能提升，很大程度上依赖于导电薄膜的精确镀制。ITO导电薄膜因其透明性和导电性，成为太阳能电池中不可或缺的组成部分。然而，ITO薄膜的厚度直接影响到电池的导电性能，因此，精确的厚度检测与控制显得尤为重要。
太阳能电池和太阳能充电系统的性能提升，很大程度上依赖于导电薄膜的精确镀制。ITO导电薄膜因其透明性和导电性，成为太阳能电池中不可或缺的组成部分。然而，ITO薄膜的厚度直接影响到电池的导电性能，因此，精确的厚度检测与控制显得尤为重要。
在传统的光学轮廓测量中，ITO膜的透光性和硅基板的高反射率往往会导致测量误差。为了解决这一问题，我们推荐使用接触式轮廓仪进行测量。接触式轮廓仪通过实际接触样品表面，避免了反射光信号的干扰，从而提供了更为准确的测量结果。特别是当薄膜厚度在十几纳米到几百纳米的范围内时，选择一款具有超微力调节和亚纳米级分辨率的台阶仪是至关重要的。
泽攸科技JS系列台阶仪，以其超精密的接触式微观轮廓测量技术，采用LVDC电容传感器，实现了亚埃级的分辨率和超微测力的精确控制。这款设备不仅能够精确测量ITO导电薄膜的厚度，还能进行纳米级表面轮廓的测量，确保了测量的高精度和样品的完整性。
泽攸科技JS系列台阶仪还具备以下便捷功能：
1. 配备360°旋转台的全电动载物台，能够迅速而准确地定位到测量点；
2. 针对批量样品，提供自定义多区域测量功能，实现一键式多点快速测量；
3. 集成SPC统计分析工具，直观展示测量数据的变化趋势，便于质量控制。
18nm样品
68um样品
泽攸科技JS系列台阶仪的应用领域广泛，不仅适用于太阳能光伏行业，还涵盖了多种金属材料、涂层、薄膜的力学、摩擦学特性研究，以及薄膜厚度和应力计算、MEMS表征、机加工部件粗糙度测量、材料表面检测、微透镜厚度/曲率测量和V-槽深度测量等。这款设备是科研和工业领域中不可或缺的精密测量工具。
泽攸科技凭借其雄厚的技术实力，确保了产品的高性能；卓越的产品性能，保障了测量数据的准确性；专业化的产品和服务，为客户提供了最优质的解决方案。
相关新闻
