透射电镜样品杆的移动范围是多少?它对样品定位有何影响


发布时间:

2024-01-10

透射电子显微镜(TEM)是一种用于观察和分析材料的高分辨率显微镜。在TEM中,样品杆的移动范围对样品定位有着重要的影响。

透射电子显微镜(TEM)是一种用于观察和分析材料的高分辨率显微镜。在TEM中,样品杆的移动范围对样品定位有着重要的影响。

样品杆的移动范围决定了我们是否可以调整样品的位置以及在何处观察感兴趣的区域。不同的TEM型号、制造商和配置可能具有不同的样品杆移动范围。通常情况下,样品杆的移动范围可以涵盖几个毫米到十几毫米。这个范围足够大,使得我们可以在电子束下灵活地选择和调整样品的不同位置。

样品杆的移动范围也会影响样品的厚度对成像的影响。通过调整样品杆的高度,我们可以选择在样品的不同厚度位置进行观察,以获得不同深度的信息。这对于不同类型的样品和不同分析目的非常重要。例如,对于薄膜样品或多层结构样品,我们可以通过调整样品杆的高度来选择观察样品的特定层次。

样品杆的移动范围还对对焦和调整能力产生影响。通过调整样品杆的高度和位置,我们可以确保样品位于电子束的焦点平面上。这有助于获得清晰的成像结果,并确保观察到的区域是准确的。

此外,在一些情况下,样品杆的移动范围还可以帮助保护样品。当电子束照射样品时,通过将样品杆稍微移动,我们可以将电子束集中在一个较小的区域,减少长时间暴露到电子束的可能性。这有助于减少样品的损伤和退化。

综上,透射电镜样品杆的移动范围可以根据不同的TEM型号、制造商和配置而有所不同。通常来说,它的移动范围可以涵盖几个毫米到十几毫米。这个范围足够大,使得我们可以灵活地选择和调整样品的位置,实现在不同区域的观察需求。同时,样品杆的移动范围还对样品厚度、对焦和调整以及样品保护等方面产生重要影响。

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统

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