原位MEMS低温电学测量系统

低温电学测量系统

PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。

所属分类:

产品咨询:

产品描述

PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学样品杆,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。


• 性能指标

透射电子显微镜指标:

△ 兼容指定型号电镜及极靴;

△ 单倾可选高倾角版本;

△ 可选双倾版本,β角倾转±25°(同时受限于极靴);

△ 测量电极数可选。

电学测量指标:

△ 包含一个电流电压测试单元;

△ 电压输出最大±200 V,最小±100 nV;

△ 电流测量最大±1.5 A,最小100 fA;

△ 恒压或者恒流模式;

△ 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

低温指标:

△ 兼容MEMS加热及电学芯片;

△ 全温区测量,温度范围:85 K- 380 K;

△ 控温稳定性:优于±0.1 K;

△ 温度连续可控 


• 经典案例

Nano Energy:北交大联合过程所团队揭示N参杂空位缺陷可提高锂离子电池中硅负极材料稳

Nat. Commun. :浙江大学利用原位透射电镜技术研究材料电脉冲塑性微观起源

Nat. Commun. :北京大学利用原位TEM观测电场调控孤立三重极性顶点的形核和移动

推荐产品

欢迎您的留言咨询

我们的工作人员将会在24小时之内(工作日)联系您,如果需要其他服务,欢迎拨打服务热线:400-966-2800