原位STM-TEM电学测量系统

电学测量系统

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量

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产品描述

PicoFemto透射电子显微镜TEM-STM样品杆是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。在进行原位操纵的同时利用投射电镜及相关附件实时动态地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,极大地扩展了透射电子显微镜的功能和应用领域。


• 经典案例

ACS Nano:浙大采用机械减薄法获得单元素金属二维材料

JMST:武汉大学利用原位透射电镜技术揭示体心立方铁中变形孪晶调制塑性变形的强尺寸效应

燕山大学:钠金属沉积/剥离动力学过程的原位观察

Small Methods: 华中科技大学高义华团队利用原位电镜技术揭示纳离子电池充放电行为和机械性能

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