原位STM-TEM光电一体测量系统

光电一体测量系统

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量

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产品描述

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体样品杆,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块,从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。


• 性能指标

透射电镜指标:

△ 兼容指定电镜型号及极靴;

△ 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);

△ 保证透射电镜原有分辨率。

电学测量指标:

△ 包含一个电流电压测试单元;

△ 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;

△ 电流分辨率:优于100 fA;

△ 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;

△ 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

扫描探针操纵指标:

△ 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

△ 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

△ 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

光纤指标:

△ 光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;

△ 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜;

△ 可选SMA接头、FC接头。


• 产品特色

△ 采用双向光纤,可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究;

△ 光电一体化解决方案,具有高拓展性;

△ 高稳定性,保证电镜原有分辨率;

△ 超长的寿命:专利技术(专利种类:实用新型(具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆) 专利号:202020944865 .4)的“爪-球”结构探针杆因其独特的结构设计,是公认皮实耐用的探针杆;

△ 超低维护成本:设备配套的针尖制备系统可低成本制备针尖耗材。”爪-球“微动结构已实现模块化量产,维护成本低;

△ 庞大的用户群:在国内拥有近200个高质量原位用户,出口到欧美澳等地。每年,用户会产出大量高质量研究成果。定期组织各类用户交流活动,搭建学术平台供用户交流;

△ 成熟的技术支持网络:在安徽、北京、东莞和上海拥有分公司,其他各地拥有若干技术支持网点,24小时提供技术支持 


• 经典案例

顶刊 | 登上Nature封面!一种基于边缘钝化硅片的柔性太阳能电池

JMST:武汉大学利用原位透射电镜技术揭示体心立方铁中变形孪晶调制塑性变形的强尺寸效应

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