原位STM-TEM低温电学测量系统

低温电学测量系统

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量

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产品描述

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学样品杆,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元,从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。


• 性能指标

 透射电镜指标:

△ 兼容指定电镜型号及极靴;

△ 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);

△ 保证透射电镜原有分辨率。

电学测量指标:

△ 包含一个电流电压测试单元;

△ 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;

△ 电流分辨率:优于100 fA;

△ 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;

△ 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

扫描探针操纵指标:

△ 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

△ 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

△ 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

低温参数指标:

△ 兼容指定型号透射电镜及极靴;

△ 全温区结构分辨率优于0.2 nm;

△ 变温范围为85 K-380 K,温度稳定性优于±0.1 K。


• 产品特色

△ 温度连续可控,稳定性高;

△ 低温下可实现对样品施加应力及电学研究;

△ 稳定性高:轻松获得大幅度运动中的高分辨像,适用于更广泛的应用场景和样品体系;

△ 超长的寿命:专利技术(专利种类:实用新型(具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆) 专利号:202020944865 .4)的“爪-球”结构探针杆因其独特的结构设计,是公认皮实耐用的探针杆;

△ 超低维护成本:设备配套的针尖制备系统可低成本制备针尖耗材。”爪-球“微动结构已实现模块化量产,维护成本低;

△ 庞大的用户群:在国内拥有近200个高质量原位用户,出口到欧美澳等地。每年,用户会产出大量高质量研究成果。定期组织各类用户交流活动,搭建学术平台供用户交流;

△ 成熟的技术支持网络:在安徽、北京、东莞和上海拥有分公司,其他各地拥有若干技术支持网点,24小时提供技术支持 


• 经典案例

Nano Energy:北交大联合过程所团队揭示N参杂空位缺陷可提高锂离子电池中硅负极材料稳

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