《Nano Lett》:泽攸科技样品杆应用于CNTs缺陷调控


发布时间:

2019-08-15

年前,小编报道的公司产品在纳米原位焊接中的应用在《Nature Communications》上发表的消息,获得了不错的反响。小编又挑选整理了20篇比较有代表性和特色的研究成果,今年将陆续和大家分享,大家记得关注小攸,不要走丢哦~往期文章也可在公众号中选择"往期文章"按钮查阅。

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碳纳米管(CNTs)中往往不可避免地存在结构缺陷。这些结构缺陷不仅会破坏晶格结构的完整性,还有可能严重影响碳纳米管的机械性能。但从另一个角度看,刻意而准确地在CNTs中调控缺陷,可以按需求调节其机械性能。本文介绍了一种利用扫描探针式原位样品杆在透射电子显微镜(TEM)中准确调节CNTs缺陷的技术。这种技术不仅调节准确、过程可逆并且还具有较高重复性,对基于CNTs的谐振器器件研发意义重大。相关研究成果由厦门大学及日本NIMS研究所联合完成,发表在《Nano Lett》上。

泽攸科技的PicoFemto®原位TEM-STM系统在该研究中稳定地完成了载样、亚纳米级操纵、施加高频交变电场以及脉冲电流的工作。

  

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研究者在TEM中,利用电子束辐照,将CNT的一端焊接在原位样品杆的W针尖位置。通过在金电极和W针尖之间施加交变电流,使CNT发生谐振。

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研究者利用纳米操纵单元分别将CNT两端与W针和金电极接触,并通过脉冲电流和电子束辐照实现对CNT中缺陷的调制。此过程可以通过TEM图像实时原位观测。  

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通过在原位探针杆上安置力学模块,研究者进一步研究了调制后的CNT的机械性能。